电子显微镜的产品系列日益完善，应用范围自然也会相应拓宽，即便是专业性极强的行业领域中，对于电镜产品的依赖性也相对较强，但前提是不同的工作模式，对于产品的功能类型要加以匹配，至于FIB-SEM的实践应用，则是在自动结构分析和TEM样品制备以及纳米原型设计中备受青睐。其实不管产品类型和功能如何变化，只要能够在匹配的应用中取得符合要求的显著成效，在错综复杂的行业环境中，就能够逐步实现利用率的提升。

众所周知，自动结构分析是具有较高专业水准的工作模式，如果没有可信赖电镜产品作为依托，分析过程中难免会遇到很多不确定因素的干扰，从而导致分析结果无法达到预期水平。而在采用了FIB-SEM相对应的仪器设备以后，不仅能够明显提升分析效率，而且效果水平的提高幅度也会在此基础上有所增加，从而为产品设备的价值体现奠定基础。

材料表面的研究分析，同样离不开功能匹配的电镜仪器，这也是在持续工作中总结出来的经验之谈，目前来看XPS仪器对于材料表面工艺的应用需求更容易给予充分满足。依托电镜仪器进行材料表面的精细化分析，会在高性能和功能化方面表现出得天独厚的优势，以此作为契机改进固有的应用策略，自然会对整体效果带来明显改善。

由此可见，针对不同的分析流程和应用条件，灵活调整电竞仪器的配置策略还是很有必要的，毕竟这对充分发挥XPS仪器卓越的性能优势，能够从不同角度起到很好的辅助作用。无论分析类型如何变化，电镜仪器的功能匹配度都有必要大幅度提高，从而为切实保障具体分析的整体效果不会受到干扰，在此基础上的分析结果也是值得信赖的。